NUVA2ランプヘッドに取り付けられたGEWマルチポイントUVモニター

マルチポイントUVモニタリング(mUVm)

UV出力の連続的なインライン測定により、UV検査を100%実施でき、これまでになかったレベルの硬化プロセス制御を実現します。

マルチポイントUVモニタリング(mUVm)

効果的なインク硬化は、UVランプと反射板システムからの正確で安定した出力によって決まります。時間の経過とともに、水銀アークランプの出力は低下し、幅全体で均一性が低下します。このため、硬化不良の製品が出荷されるリスクを回避するには、入念な管理を行う必要があります。硬化レベルやUV出力のチェックは常に時間がかかり、やや主観的なプロセスでしたが、GEWのマルチポイントUVモニタリング(mUVm)を使用することで、はるかに簡単かつ正確に行うことが可能になります。mUVmソリューションは、1個、または最大5個のUVセンサーランプのセットで構成され、システム内の各UVランプの強度を連続的に監視します。

GEWのシンプルなユーザーインタフェースでは、タッチスクリーン上にランプのUV出力が表示されます。また、出力が低すぎたり高すぎる場合、アラームが警告するように設定できます。ランプごとに最大5個のセンサーが毎秒1回モニタリングを行うため、硬化工程の幅全域と製造工程全体で、今までになかったUV硬化プロセス制御を実現することができます。

このシステムの利点は以下のとおりです。

  • UVランプの耐用期間終了時期が簡単に確認可能
  • UV検査を100%実施でき、生産バッチごとの記録を作成
  • 下記の欧州食品接触パッケージ規制へのコンプライアンスを向上
    • フレームワーク規則 (EC) 1935/2004 第3条
    • 製造管理および品質管理に関する基準規則 (EC) 2023/2006
    • プラスチック規制 (EU) 10/2011、スイス条例 SR 817.023.21
  • 硬化不良の製品発生のリスクなしにランプの稼働電力を減少させて、省エネを実現
  • ランプごとのUV出力を生で記録することにより、バッチごとにUV硬化証明書を作成

安定した読み取り値を維持するため、フィルター付き圧縮空気パージによって汚れやホコリの侵入を防止し、長期間にわたる信頼性の高い操作が実現できます。また、簡単に取り外しができる光学アセンブリにより、必要に応じて補足クリーニングが可能です。

各センサーは、広帯域またはUVCスペクトル範囲で注文でき、RHINOまたはRLT電源装置を備えたすべてのGEWアークランプシステムに取り付けることができます。


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